納米粒度及Zeta電位分析儀

簡要描述：

Nanolink SZ901系列是真理光學在SZ900基礎上基于多年的科研成果開發的新一代納米粒度和Zeta電位分析系統，采用動態光散射(DLS)和電泳光散射(ELS)原理分別進行納米粒度測量和Zeta電位分析，被廣泛應用于有機或無機納米顆粒、乳液、高分子聚合物、膠束、病毒抗體及蛋白質等樣品的顆粒表征及樣品體系穩定性及顆粒團聚傾向性的檢測和分析。

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詳細介紹

Nanolink SZ901的性能和主要特點包括：

◆ 經典90°動態光散射技術測量粒徑，測量范圍覆蓋0.3nm – 15μm

◆ 激光多普勒電泳技術用于Zeta電位分析，可預知分散體系的穩定性及顆粒團聚的傾向性

◆ 加持自動恒溫技術的功率可達50mW, 波長638nm的固體激光光源，儀器即開即用

◆ 激光光源與照明光及參考光的一體化及光纖分束技術

◆ 信號光與參考光的光纖合束及干涉技術

◆ 集成光纖技術的高靈敏度和極低暗電流(20cps)的光子檢測器

◆ 常規溫度控制范圍可達-15°C~120°C,精度±0.1°C

◆ 新一代高速數字相關器，動態范圍大于1011

◆ 冷凝控制 – 干燥氣體吹掃技術

技術指標：

測量原理	動態光散射（DLS）、靜態光散射（SLS）、電泳光散射（ELS）
粒徑測量角度	90°，12°（Zeta電位）
粒徑測量范圍	0.3nm -15um*
粒徑測量最小樣品量	3ul*
粒徑測量最小樣品濃度	0.1mg/ml
粒徑測量最大樣品濃度	40%/wv**
檢測點位置	距入射點0~5mm可調
檢測點定位精度	0.01mm
Zeta電位測量技術	余弦擬合位相分析法（CF-PALS）
Zeta電位測量范圍	無實際限制
適用Zeta電位測量的粒徑	1nm - 120μm*
遷移率范圍	最小0，最大無實際限制
最大電導率	270mS/cm
電極	插入式平板電極、U型毛細管電極
分子量范圍	340Da - 2x10⁷Da
其它高級測量/計算功能	介質粘度、折光率、樣品透過率/濃度、第二維利系數、顆粒間相互作用力系數和聚集度指數
光源	集成恒溫系統及光纖耦合的最大功率50mW, 波長638nm固體激光器
光強度調整范圍	自動調節，0.0001%～100%
相關器	高速數字相關器，自適應通道配置
檢測器	高靈敏度APD
溫度控制范圍	-15°C ~ 120°C
溫度控制精度	±0.1°C
進樣方式	手動/自動
樣品池（選配）	12mm比色皿、3μL毛細管超微量樣品池、40μL微量樣品池
環境要求	5-40℃，10%-80%相對濕度（無凝結）
工作電源	AC100V-240V，標準接地，直流電源供電24V/5A
系統重量	20kg
外形尺寸	430mm x 512mm x 230mm (LxWxH) (LxWxH)

注：* 取決于樣品及樣品池選件 ** 取決于測量角度

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