激光粒度分析儀

簡要描述：

LT2200E是真理光學(xué)基于多年的科研成果開發(fā)的新一代超高速智能激光粒度分析系統(tǒng)，其多項技術(shù)性能和指標均超過當前激光粒度儀的水平，成為當今粒度儀市場具有性價比的產(chǎn)品之一。

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詳細介紹

LT2200E激光粒度分析儀加持了以下多項創(chuàng)新和技術(shù)：

◆ 偏振濾波技術(shù)

◆ 衍射愛里斑反常變化（ACAD)的補償修正技術(shù)

◆ 斜入射反傅里葉光路配置

◆ 格柵式大角度檢測陣列技術(shù)

◆ 粒度分析模式優(yōu)化及自適應(yīng)技術(shù)

◆ 連續(xù)液位感知及控制技術(shù)

◆ 高靈敏度光能跟蹤及穩(wěn)定技術(shù)

LT2200E光學(xué)測量系統(tǒng)的性能還包括：

◆ 符合ISO13320衍射法測量技術(shù)標準

◆ *的光路配置，超大連續(xù)的物理測量角度
◆ 改進型反演算法，用戶無需選擇“分析模式”，兼顧的分辨率和穩(wěn)定性
◆ 無需更換透鏡，無需使用標準樣校準，量程范圍達到0.1微米至1200微米
◆ 實時測量頻率高達每秒2000Hz，不漏檢任何形狀和分布顆粒的衍射信息
◆ 采用自動溫度恒定技術(shù)的超高穩(wěn)定固體激光光源系統(tǒng)，克服了氦氖氣體激光器預(yù)熱時間長，使用壽命短的缺點
◆ 采用偏振空間濾波技術(shù)，摒棄導(dǎo)致機械和熱穩(wěn)定性差的針孔濾波器

激光粒度分析儀技術(shù)參數(shù)：

項目		指標

測量原理		激光衍射
光學(xué)模型		全量程米氏理論及夫朗霍夫理論可選
粒徑范圍		0.1μm-1200μm，無需更換透鏡，不依賴標樣校準
檢測系統(tǒng)		包含格柵式超大角度，非均勻交叉面積補償檢測器陣列
測量池光源		平行斜置集成恒溫系統(tǒng)的638nm，高20mW固體激光器
空間濾波方式		非針孔式偏振濾波技術(shù)
光學(xué)對中系統(tǒng)		智能全自動
測量時間		典型值小于10秒
測量速度		2000次/秒
度		Dv50優(yōu)于±0.6% （NIST可溯源乳膠標樣）
重復(fù)性		Dv50優(yōu)于±0.5% （NIST可溯源乳膠標樣）
激光安全		1類激光產(chǎn)品

計算機配置		In i5處理器，4GB內(nèi)存，250GB硬盤，鼠標，鍵盤和寬屏顯示器
計算機接口		USB2.0或以上
軟件運行平臺		Windows7或以上版
操作環(huán)境溫度		5℃-40℃
操作環(huán)境濕度		10%-85%相對濕度（無結(jié)凝）
電源要求		交流220V，50Hz-60Hz，標準接地

光學(xué)系統(tǒng)重量		30kg
光學(xué)系統(tǒng)尺寸		670mm x 275mm x 320mm

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